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2024-10-13
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161
日本syscom薄膜/药品等测量仪弹性仪质构仪 NDS-1000 受欢迎的类型,紧凑,轻量,价格低廉 同时评估液体、各种凝胶、薄膜和固体材料的弹性和粘度! 还可以选择使用介电分析同时进行 DEA-DMA 测量。
2024-10-13
经销商
119
日本syscom动态粘弹性测量装置质构仪流变仪 NDS-1000 受欢迎的类型,紧凑,轻量,价格低廉 同时评估液体、各种凝胶、薄膜和固体材料的弹性和粘度! 还可以选择使用介电分析同时进行 DEA-DMA 测量。
2024-10-13
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122
日本katsura全视场波前像差测量装置全自动 AW-1000 这是一种可以全自动测量镜头光轴上和离轴波前像差的设备。
2024-10-12
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134
日本katsura自准直仪角度高精度测量装置 MS-2000 该设备非常适合评估和检查智能手机和其他设备中安装的具有传感器移位图像稳定功能的相机模块执行器。 通过使用特殊的专用目标,可以高精度地同时测量目标物体的六项:倾斜(θX,θY)、位移(Z)、位置(X,Y)和旋转(θ)。
2024-10-12
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150
nisshooptical卤素光源目视检查测量仪日本 AFM-30 这是一种新型深度和高度测量装置,结合了使用光切割的狭缝图像观察和使用聚光图像的AF(自动对焦)跟踪。 连续跟踪自动对焦驱动可实现快速、易于使用的测量,并具有高重复性。 由于该方法在观察狭缝图像投影的台阶形状的同时进行测量,因此可以实时识别测量屏幕上的高度,从而轻松确定需要测量的区域。
2024-10-12
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210
日本nisshooptical半导体激光器测量装置 AFM-30 这是一种新型深度和高度测量装置,结合了使用光切割的狭缝图像观察和使用聚光图像的AF(自动对焦)跟踪。 连续跟踪自动对焦驱动可实现快速、易于使用的测量,并具有高重复性。 由于该方法在观察狭缝图像投影的台阶形状的同时进行测量,因此可以实时识别测量屏幕上的高度,从而轻松确定需要测量的区域。
2024-10-12
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日商精光nisshooptical光学系统测量深高度 AFM-30 这是一种新型深度和高度测量装置,结合了使用光切割的狭缝图像观察和使用聚光图像的AF(自动对焦)跟踪。 连续跟踪自动对焦驱动可实现快速、易于使用的测量,并具有高重复性。 由于该方法在观察狭缝图像投影的台阶形状的同时进行测量,因此可以实时识别测量屏幕上的高度,从而轻松确定需要测量的区域。
2024-10-12
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154
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