日本seikou-giken光干涉非接触式测量厚度仪

日本seikou-giken光干涉非接触式测量厚度仪 WLI2000系列

厚度测量传感器WLI2000系列
该传感器的特点是利用光干涉非接触式测量工件的厚度。
它是应用医院眼底检查中使用的 OCT 检查技术而开发的工业测量传感器。

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详细介绍

日本seikou-giken光干涉非接触式测量厚度仪 WLI2000系列特点介绍

厚度测量传感器WLI2000系列

该传感器的特点是利用光干涉非接触式测量工件的厚度。

它是应用医院眼底检查中使用的 OCT 检查技术而开发的工业测量传感器。

这是该公司的第一个内部产品。这是一种通过传输光，以非接触方式即时测量材料深度和厚度的装置，由工业界和学术界与千叶大学椎名龙夫实验室共同开发。据说任何能透过光的物质都可以测量。我们正在开发树脂、塑料、玻璃制品等检查的销售渠道。

它具有从15μm到14mm（空间距离）的宽测量范围，还可以进行其他测量方法难以完成的测量，例如测量透镜内部厚度、测量间隙深度和材料内部缺陷。

目前正在开发中，未来可用于再生医学领域。

日本seikou-giken光干涉非接触式测量厚度仪 WLI2000系列规格参数

频道数可作为可选规格扩展至16ch。

为了提高精度，测定速度根据平均化和测定层数而变化。

·通过平均化处理提高测定精度。（10次平均、2mm玻璃板、±1μm实际结果）

测量范围为玻璃板。

来自外部系统的操作为使用的DIO模块的串行通信。

1最大8ch测定

2高速测定max.8ch/5sec

3测定精度+/-0.3%

4测量范围15微~10mm

5可从外部系统操作

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