日本Japansensor发射测量仪用于半导体/核电

日本Japansensor发射测量仪用于半导体/核电 TSS-5X-3 特点介绍

使用发射率测量仪TSS-5X-3，您可以轻松测量样品在室温下的发射率。

发射率值以数字方式显示，方便查看，操作简单。

量化材料表面处理的细微差别

TSS-5X-3 可让您轻松测量室温下的发射率。

样品的发射率以数字方式显示，方便查看，操作方便。

它被应用于从研发到大规模生产线的广泛领域，包括空间、半导体和核电。

TSS-5X-2 已更新为 TSS-5X-3。

日本Japansensor发射测量仪用于半导体/核电 TSS-5X-3 规格参数

量化材料表面处理的细微差别

通过了解发射率，您可以提高加热设备的辐射效率，设计强调散热和隔热的材料，还可以用于节省能源。

TSS-5X-3使用两种类型的参考件（发射率0.06和0.97），其参考发射率是预先已知的，并且可以在室温下轻松测量，无需加热样品。

它被应用于从研发到大规模生产线的广泛领域，包括空间、半导体和核电。

模型TSS-5X-3 

测量方法使用红外检测的反射能量测量方法 

测量波长2～22μm 

测量范围发射率：0.00-1.00 

准确率评估满量程的 ±1% 

测量面积Φ15mm 

测量距离12mm（检测头柱固定） 

样品温度10-40℃（室温） 

测量值显示LED数字显示（显示至小数点后第二位） 

输出0-0.1V、0-1V、满量程 

工作温度/湿度范围10~45℃/35~85℃（无凝结）