日本rikenkeiki光学测量仪用于半导体材料等

日本rikenkeiki光学测量仪用于半导体材料等 AC-5/AC-3 特点介绍

能够使用平板开放式计数器对高达 4000 cps 的光电子进行计数

能够安装尺寸达 180 x 180 毫米的大型样品

任何位置都可以通过点测量进行测量。

使用样品更换器 (*) 可自动测量多达 25 个板状或粉末状样品。

通过使用Xe（氙）灯（*），可以高灵敏度地测量不易产生电子的

日本rikenkeiki光学测量仪用于半导体材料等 AC-5/AC-3 规格参数

有机EL和复制感光材料的电离势测量

硬盘和磁带摩擦学研究

半导体和引线框架表面氧化态的测量

精密电子材料中分子级薄膜污染检测

测量以下功能材料的电离势：

有机EL、有机太阳能电池、有机晶体管、复印感光材料、钙钛矿太阳能电池、量子点、碳纳米材料、催化剂材料、蓄电池、燃料电池、半导体材料（Si、GaN） 、GaAs等）、透明导电膜（ITO、FTO等）

4000cps

光谱仪 光栅式单色仪

最大样本量 面积180×180mm以下，厚度1±0.2mm以下

温湿度范围 温度范围15-35℃，湿度20-60%RH

电源 AC100V-240V

50/60Hz 5A (MAX)

*不包括控制电脑

外形尺寸 光源部分 LC-1：约 450(W) x 300(H) x 500(D)mm

测量部分 DC-1：约 600(W) x 380(H) x 500(D)mm

重量 光源部分 LC-1：约 35 kg

测量部分 DC-1：约 50 kg *不包括控制 PC