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日本oji-keisoku分子取向仪无损测量高精度 MOA-8000系列■特点1. 非接触式、无损测量2. 可测量透明和不透明材料3. 全自动、高精度4. 可测量复介电常数（介电常数、介质损耗因数）
产品型号：MOA-8000系列厂商性质：经销商更新时间：2024-10-10访 问 量：190
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日本oji-keisoku分子取向仪无损测量高精度 MOA-8000系列 特点介绍
■特点
1. 非接触式、无损测量
2. 可测量透明和不透明材料
3. 全自动、高精度
4. 可测量复介电常数（介电常数、介质损耗因数）
日本oji-keisoku分子取向仪无损测量高精度 MOA-8000系列 规格参数
■测量对象
1. 薄膜、片材
2. 纸、无纺布、预浸料
3. 泡沫片材
4. 陶瓷
5. 橡胶片材
6. 纤维增强复合材料
7. 液晶聚合物（LCP）
■用途
1. 拉伸薄膜的各向异性测量（弯曲现象分析）
2. 液晶聚合物的取向评价
3. 电子相关材料的复合介电常数测量等 ■
产品阵容
< MOA-8004 >
◆测量频段... 4GHz
◆ 测量面积...Φ65mm
◆样品尺寸...□95mm <t3mm
◆测量项目
取向图案测量：取向角、MOR、MOR_C、ε'、⊿n
介电常数图案测量：取向角、ε'、ε"
共振曲线测量：共振曲线、Q值
< MOA-8015 >
◆测量频段... 12GHz / 15GHz / 17GHz
◆测量面积... Φ18mm
◆样品尺寸... □35mm <t1.5mm
◆测量项目
方向图测量：取向角、MOR、MOR_C、ε'、⊿n
介电常数图案测量：取向角、ε'、ε"
共振曲线测量：共振曲线、Q 值
邮箱：akiyama_zhou@163.com
传真：
地址：广东省深圳市龙岗区龙岗街道新生社区新旺路8号和健云谷2栋10层1002
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