日本SHINYEI粒子传感监测仪单元洁净室检测 AES-FP系列该监测仪可以在需要清洁度控制的环境中持续监测0.3μm(或0.5μm)或更大的颗粒,例如洁净室、洁净室、半导体/薄膜/食品制造过程、印刷过程和医院设施。它支持使用类别值对悬浮颗粒进行可视化,对于 HACCP 管理也很有用。传感器单元设计紧凑,适合集成到生产设备等中,并且可以安装在狭窄的空间内。
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日本SHINYEI粒子传感监测仪单元洁净室检测 AES-FP系列 特点介绍
该监测仪可以在需要清洁度控制的环境中持续监测0.3μm(或0.5μm)或更大的颗粒,例如洁净室、洁净室、半导体/薄膜/食品制造过程、印刷过程和医院设施。
它支持使用类别值对悬浮颗粒进行可视化,对于 HACCP 管理也很有用。传感器单元设计紧凑,适合集成到生产设备等中,并且可以安装在狭窄的空间内。
日本SHINYEI粒子传感监测仪单元洁净室检测 AES-FP系列 规格参数
一种可以低价测量悬浮颗粒物的监测仪
如果需要监控功能,请使用粒子传感监控器“AES-FP系列"。当合并到控制系统或测量更多位置时,将颗粒传感器单元“AES-FPS"用作单个传感器。
清洁度等级 1,000 至 100,000通过 4 级 LED 显示
简单的操作性和显示使清洁管理变得更简单、更直观。
输出0.3μm(或0.5μm)及数μm以上的粒子数(参考值)
通过不仅控制清洁度控制所需的亚微米级颗粒(*),而且还控制大于几微米的颗粒,我们可以抑制由于制造过程中的污染而导致的质量缺陷的发生。
(*) 检测到的粒径因型号而异。请选择“0.3μm测量型号"或“0.5μm测量型号"。
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