日本epi-kyoto高速剥离强度试验机高速芯片

日本epi-kyoto高速剥离强度试验机高速芯片 PTS-5000K 特点介绍

高速剥離強度試験器

PTS-5000K

具有与高速芯片安装器相同条件

用剥离螺旋仪测量

织物所要求的真正品质，

PTS-5000K可实现

我们的剥离机制使得高速（15 m/min）测量长样品成为可能。

可以在连续操作或间距进给操作中进行测量，并且可以在与贴片机相同的操作条件下测量间距进给。

测量数据可以模拟形式输出，以便进行更详细的分析。

进给速度可从 120 mm 更改为 15 m/min，还可实现 300 mm/min 的 JIS 标准测量。

日本epi-kyoto高速剥离强度试验机高速芯片 PTS-5000K 规格参数

规格。外形尺寸

装置外形寸法

310（宽度）x465（深度）x250（高度）mm

装置重量

14kg

对应带宽

4~56mm

強度测定範囲

0~2N(0~200gf)

分解能

0.001N(0.1gf)

测定速度

120mm/分钟~15m/分可变

测定周期

0.以01s为单位设定（0.01~0.25s)

测定長

MAX6000点（测量周期0.01s时，测量长度300mm）

模拟输出

BNC连接器（50Ω）模拟输出器时可环绕

設定入力方式

触摸显示对话式

数据记录介质

USB闪存

分量输出方式

萨一马尔打印机

数据传输

USB Ver2.0

表示単位

N表示/gf表示切换

表示言語

日本語

電源電压

AC100V(50/60Hz)

测定MoF

连续进给测量销钉进给测定切换

间距进给以1p为单位，停止时间以0.01s为单位，可进行数值输入