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  • 6651日本rst-eng容量计1kHz电容计测量LED显示屏

    日本rst-eng容量计1kHz电容计测量LED显示屏 6651 1kHz 电容计 用于安装薄膜电容器等的编带装置和分选装置。 测量范围:10.0pF至9.99μF 测量时间:25毫秒 比较结果:LED显示、蜂鸣器 BCD码输出

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    2024-10-08

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  • 6062日本rst-eng容量计测量电容器电容值高精度

    日本rst-eng容量计测量电容器电容值高精度 6062 贴片式电容器编带机用高速高精度测量装置 以 3 位数字 1/2 显示测量值 测量范围0~199.9μF 自动杂散校正功能:约18pF 积分时间:2毫秒 操作时间:约3毫秒

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    2024-10-08

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  • AD-4771日本aandd内置蓝牙的数字糖度计糖含量浓度

    日本aandd内置蓝牙的数字糖度计糖含量浓度 AD-4771 ・测量范围(Brix 值):0 至 55% ・通过蓝牙通信与应用程序“A&D Brix Check”链接 ・可通过应用程序进行操作,并可保存测量数据的图像

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    2024-10-08

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  • CMP-21荷兰Kipp Zonen日射计高速响应放射观测量

    荷兰Kipp Zonen日射计高速响应放射观测量 Kipp & Zonen CMP-21 与 CMP11 相比,它的温度依赖性更小。标准热敏电阻传感器(可选:Pt100Ω)监控外壳温度,每个设备都附有温度依赖性数据和余弦特性数据。它用于科学研究,用于别的放射观测网络(BSRN)。

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    2024-10-08

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  • CMP-22荷兰Kipp Zonen全天空太阳总辐射测量热量

    荷兰Kipp Zonen全天空太阳总辐射测量热量 Kipp & Zonen CMP-22 该传感器使用石英圆顶并测量水平面上的总太阳辐射,它是直接太阳辐射和散射太阳辐射的组合。

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    2024-10-08

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  • AK-100ZF /AK-150ZF日本进口Akion激光干涉仪6英寸测量玻璃金属

    日本进口Akion激光干涉仪6英寸测量玻璃金属 AK-100ZF /AK-150ZF /AK-40ZF 非常适合测量玻璃、塑料、金属等的平面形状。 可以以 λ/20 的高精度测量和评估从小直径到大直径的抛光表面。

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    2024-10-08

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  • IFM日本进口Akion激光光学干涉条纹分析装置

    日本进口Akion激光光学干涉条纹分析装置 IFM 通过高精度分析量化干涉条纹 通过利用激光干涉仪观察到的干涉条纹图像,对抛光表面的表面精度和光学元件的透射波前精度进行量化和可视化,从而获得精度更高、更易于理解且有助于提高质量控制的产品。

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    2024-10-08

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  • 控制器日本alnair-labs高精度波片光学测量仪器

    日本alnair-labs高精度波片光学测量仪器 Alnair Labs 偏振控制器 使用高精度波片的偏振控制器 模块化型,可自由组合偏光片和波片

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    2024-10-08

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