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  • Quantum日本NCC小型清洁检查灯可视化灰尘、划痕等

    日本NCC小型清洁检查灯可视化灰尘、划痕等 Quantum 用小但高度直射的光“可视化”灰尘、异物和划痕! 检查灯“Quantum”,现场管理人员的必需品

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    2024-10-13

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  • ZEUS日本NCC可视化目视清洁检查灯设备检测灰尘

    日本NCC可视化目视清洁检查灯设备检测灰尘 ZEUS 缺陷的原因可以很容易地看到并消除。 “ZEUS”是工作场所的清洁检查灯,旨在实现 0% 的缺陷率。

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    2024-10-13

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    119

  • ZEUS日本NCC手持式目视检查灯检测异物漂浮状态

    日本NCC手持式目视检查灯检测异物漂浮状态 ZEUS 缺陷的原因可以很容易地看到并消除。 “ZEUS”是工作场所的清洁检查灯,旨在实现 0% 的缺陷率。

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    2024-10-13

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    113

  • ZEUS日本进口NCC颗粒/灰尘高精度目视清洁检查灯

    日本进口NCC颗粒/灰尘高精度目视清洁检查灯 ZEUS 缺陷的原因可以很容易地看到并消除。 “ZEUS”是工作场所的清洁检查灯,旨在实现 0% 的缺陷率。

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    2024-10-13

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    120

  • AW-1000日本katsura全视场波前像差测量装置全自动

    日本katsura全视场波前像差测量装置全自动 AW-1000 这是一种可以全自动测量镜头光轴上和离轴波前像差的设备。

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    2024-10-12

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    138

  • MS-2000日本katsura自准直仪角度高精度测量装置

    日本katsura自准直仪角度高精度测量装置 MS-2000 该设备非常适合评估和检查智能手机和其他设备中安装的具有传感器移位图像稳定功能的相机模块执行器。 通过使用特殊的专用目标,可以高精度地同时测量目标物体的六项:倾斜(θX,θY)、位移(Z)、位置(X,Y)和旋转(θ)。

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    2024-10-12

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  • AFM-30nisshooptical狭缝图像观察深度高度测量机

    nisshooptical狭缝图像观察深度高度测量机 AFM-30 这是一种新型深度和高度测量装置,结合了使用光切割的狭缝图像观察和使用聚光图像的AF(自动对焦)跟踪。 连续跟踪自动对焦驱动可实现快速、易于使用的测量,并具有高重复性。 由于该方法在观察狭缝图像投影的台阶形状的同时进行测量,因此可以实时识别测量屏幕上的高度,从而轻松确定需要测量的区域。

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    2024-10-12

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  • AFM-30nisshooptical卤素光源目视检查测量仪日本

    nisshooptical卤素光源目视检查测量仪日本 AFM-30 这是一种新型深度和高度测量装置,结合了使用光切割的狭缝图像观察和使用聚光图像的AF(自动对焦)跟踪。 连续跟踪自动对焦驱动可实现快速、易于使用的测量,并具有高重复性。 由于该方法在观察狭缝图像投影的台阶形状的同时进行测量,因此可以实时识别测量屏幕上的高度,从而轻松确定需要测量的区域。

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    2024-10-12

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